凱思隆科技股份有限公司

四點探針薄膜片電阻量測儀、高頻探針PicoProbe、TLM量測設備、探針卡維修調校

手動探針台/探針座
適用於：晶圓(直流電性、或高頻)量測；液晶面板量測；觸控面板ITO薄膜、導電高分子薄膜、矽晶片、太陽能電池薄膜、金屬薄膜等，各種薄膜的四點探針片電阻率導電度量測；軟性顯示面板量測；以及客製化的量測需求。

Keithley 儀器軟硬體系統整合服務
提供Keithley量測儀器與客製化的量測程式。例如：MOSFET I-V、四點探針片電阻、溫度電阻、太陽能電池效率、TLM多點接觸電阻、IPCE、高低電阻、高低電壓…等量測程式。並整合手動探針台，提供元件特性量測的整合服務。

低價位電壓電流源、C-V量測儀、高壓電流源與其他 (SMU, C-V Meter, High V/I Power Sources, etc.)

PLED/OLED 功能性測試系統 / OLED LT/LIV量測與AC-DC點亮測試系統 (OLED LT/LIV & AC-DC Driving Test System)
發光強度-電流-電壓（LIV）量測系統、壽命週期測試系統、及光電測試系統，可方便進行OLED（PLED）、有機太陽能電池、有機感測器等元件的特性分析、壽命週期參數測試、與製程中缺陷分析。

探針卡維修服務
探針調校、共同平整度、研磨與蝕刻等探針卡的維修服務。

凱思隆可提供您哪些服務？
1.Wafer/RF/Four Point Probe Station/高頻探針 (Wafer/RF/Four Point Probe Station and Picoprobe)
2.Keithley 軟硬體整合 (量測儀器 + 量身撰寫量測程式) (Keithley Instrument, Probing and program integration service)
3.低價位電壓電流源、C-V量測儀、高壓電流源與其他 (SMU, C-V Meter, High V/I Power Sources, etc.)
4.量測代工 (Device characteristics measurement service)
5.OLED LT/LIV量測與AC-DC點亮測試系統 (OLED LT/LIV & AC-DC Driving Test System)
6.探針卡維修調校服務 (Probe Card Maintenance and Repair Service)
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