IC晶片是將大量的微電子元器件(電晶體、電阻、電容等) 形成的積體電路放在一塊塑基上，做成一塊晶片。而今幾乎所有看到的晶片，都可以叫做IC晶片。積體電路（integrated circuit）是一種微型電子器件或部件。採用一定的工藝，把一個電路中所需的電晶體、二極體、電阻、電容和電感等元件及佈線互連一起，是重要的科技產品。很多國內的高新科技產業如聯盛德都需要大量的這種產品。但是，如果檢驗IC晶片的質量呢？
方法/步驟
1、不在路檢測
這種方法是在ｉｃ未焊入電路時進行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應於接地引腳之間的正、反向電阻值，並和完好的ｉｃ進行 必較。
2、在路檢測
這是一種通過萬用表檢測ｉｃ各引腳在路（ｉｃ在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換ｉｃ的侷限性和拆卸ｉｃ的麻煩，是檢測ｉｃ最常用和實用的方法。
3、直流工作電壓測量
這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進行測量；檢測ｉｃ各引腳對地直流電壓值，並與正常值相 較，進而壓縮故障範圍， 出損壞的元件。測量時要注意以下八 ：
(1)萬用表要有足夠大的內阻， 少要大於被測電路電阻的１０倍以上，以免造成較大的測量誤差。(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，訊號源要採用標準彩條訊號發生器。（3)表筆或探頭要採取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞ｉｃ。可採取如下方法防止表筆滑動：取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上，並長出表筆尖約０．５ｍｍ左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點也不會短路。(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時，應根據該引腳電壓對ｉｃ正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進行分析， 能判斷ｉｃ的好壞。(5)ｉｃ引腳電壓會受外圍元器件影響。當外圍元器件發生漏電、短路、開路或變值時，或外圍電路連線的是一個阻值可變的電位器，則電位器滑動臂所處的位置不同，都會使引腳電壓發生變化。(6)若ｉｃ各引腳電壓正常，則一般認為ｉｃ正常；若ｉｃ部分引腳電壓異常，則應從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無故障，若無故障，則ｉｃ很可能損壞。(7)對於動態接收裝置，如電視機，在有無訊號時，ｉｃ各引腳電壓是不同的。如發現引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨訊號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ｉｃ損壞(8)對於多種工作方式的裝置，如錄影機，在不同工作方式下，ｉｃ各引腳電壓也是不同的。
4．交流工作電壓測量法
為了掌握ｉｃ交流訊號的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬用表對ｉｃ的交流工作電壓進行近似測量。檢測時萬用表置於交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對於無ｄｂ插孔的萬用表，需要在正表筆串接一隻０．１～０．５μｆ隔直電容。該法適用於工作頻率 較低的ｉｃ，如電視機的視訊放大級、場掃描電路等。由於這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的資料是近似值，只能供參考。
5．總電流測量法
該法是通過檢測ｉｃ電源進線的總電流，來判ｉｃ好壞的一種方法。由於ｉｃ內部絕大多數為直接耦合，ｉｃ損壞時（如某一個ｐｎ結擊穿或開路）會引起後級飽和與截止，使總電流發生變化。所以通過測量總電流的方法可以判 ｉｃ的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值