透射電鏡和掃描電鏡的區別?
General 更新 2022年9月13日
透射電鏡和掃描電鏡的區別：結構不同、工作原理不同、對樣品的要求不同、操作不同、放大倍數不同、用途不同等。透射電鏡(TEM)可以將樣品放大5000萬倍以上，而對於掃描電鏡(SEM)來說，限制在1-2百萬倍之間。
透射電鏡和掃描電鏡的區別是什麼
掃描電鏡(SEM)使用一組特定的線圈以光柵樣式掃描樣品並收集散射的電子。而透射電鏡(TEM)是使用透射電子，收集透過樣品的電子。
透射式電鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構，而掃描電鏡主要用於觀察固體表面的形貌和物質成分分析。
透射式電鏡的電子由鎢絲熱陰極發射出，通過第一、二兩個聚光鏡使電子束聚焦。掃描電鏡的電子束僅以聚焦的方式呈現在樣本的一小塊地方。
操作環境
品牌型號：通用
系統版本：通用