可控矽又叫晶體閘流管，在強電和弱電領域都有極為廣泛的應用。其中在弱電領域中應用的可控矽功率比較小，外形像三極體，是電子愛好者常遇到的元件之一。 正確測試可控矽是電子愛好者必須具備的基本技能。如何來測試可控矽呢?由於萬用表是電子愛好者必配工具，這裡介紹如何用萬用表來測試單向可控矽。單向可控矽的測試包括兩個方面：一是極性的判定；二是觸發特性的測試。
工具/原料
萬用表
步驟/方法
可控矽極性的判定
單向可控矽是由三個PN接面的半導體材料構成，其基本結構、符號及等效電路如圖1所示。
可控矽有三個電極：陽極(A)、陰極(K)和控制極(G)。從等效電路上看，陽極(A)與控制極(G)之間是兩個反極性串聯的PN接面，控制極(G)與陰極(K)之間是一個PN接面。根據PN接面的單向導電特性，將指標式萬用表選擇適當的電阻檔，測試極間正反向電阻(相同兩極，將表筆交換測出的兩個電阻值)，對於正常的可控矽，G、K之間的正反向電阻相差很大；G、K分別與A之間的正反向電阻相差很小，其阻值都很大。這種測試結果是唯一的，根據這種唯一性就可判定出可控矽的極性。用萬用表R×1K檔測量可控矽極間的正反向電阻，選出正反向電阻相差很大的兩個極，其中在所測阻值較小的那次測量中，黑表筆所接為控制極(G)，紅表筆所接的為陰極(K)，剩下的一極就為陽極(A)。通過判定可控矽的極性同時也可定性判定出可控矽的好壞。如果在測試中任何兩極間的正反向電阻都相差很小，其阻值都很大，說明G、K之間存在開路故障；如果有兩極間的正反向電阻都很小，並且趨近於零，則可控矽內部存在極間短路故障。
單向可控矽觸發特性測試
單向可控矽與二極體的相同之處在於都具有單向導電性，不同之處是可控矽的導通還要受控制極電壓控制。也就是說使可控矽導通必須具備兩個條件：陽極(A)與陰極(K)之間應加正向電壓，控制極(G)與陰極(K)之間也應加正向電壓。當可控矽導通以後，控制極就失去作用。單向可控矽的導通過程可用圖2所示的等效電路來說明：PNP管的發射極相當可控矽的陽極(A)，NPN管的發射極相當可控矽的陰極(K)，PNP管的集電極與NPN管的基極相聯後相當於可控矽的控制極(G)。當在A、K之間加上允許的正向電壓時，兩隻管子均不導通，此時當在G、K之間加上正向電壓便形成控制電流流入V2的基極，如此迴圈直至兩管完全導通。當導通後，即使Ig=O，由於V2有基極電流，且遠大於Ig，因此兩管仍然導通。要使導通的可控矽截止，必須把A、K正向電壓降低到一定值，或反向，或斷開。根據可控矽的導電特性，可用萬用表的電阻檔進行測試。對小功率可控矽可按圖3(a)所示聯接電路，在可控矽A、G之間聯接一隻輕觸開關(以便於操作)，用萬用表的R×1Ω檔，黑表筆接A極，紅表筆接K，此時給可控矽加上一正向電壓(通過萬用表內附的乾電池)，萬用表的指標不動，可控矽不導通，當按下開關，A、G接通，在G、K之間加上觸發電壓，可控矽才導通，萬用表的指標偏轉，指向一個較小的值；當G、A斷開後，失去了控制電壓，如果萬用表的指標位置不變，可控矽仍處於導通狀態，說明該可控矽的觸發特性良好，如果G、A斷開後，萬用表指標隨即偏轉，指向∞。即可控矽不導通，則說明該可控矽的觸發特性不好，或已損壞。對功率較大的可控矽，由於導通電壓降較大，維持電流難以維持，引起導通狀態欠佳，此時應在可控矽的陽極(A)上串接一節乾電池，如圖3(b)所示電路進行測試，以免引起誤判。對於大功率可控矽應在圖3(b)的電路上再串上一節乾電池，使測試效果明顯。一般來說在測試10A以下的單向可控矽用圖3(a)所示聯接電路；10A一100A的可控矽用圖3(b)所示聯接電路，測試100A以上的單向可控矽應在圖3(b)上再串一節乾電池。
在測試單向可控矽的基礎上，對其它型別的可控矽，根據其基本結構，也可用萬用表對其進行測試
注意事項
無